Etude sur les transistors MOSFETs en Carbure de Silicium - Potentiel d'utilisation dans les Applications Hautes Températures - Symposium de Génie Électrique 2014
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Etude sur les transistors MOSFETs en Carbure de Silicium - Potentiel d'utilisation dans les Applications Hautes Températures

Résumé

Ce papier présente les performances des MOSFETs en carbure de silicium pour des applications haute température. Les caractérisations statiques et dynamiques ont été réalisées avec un packaging adéquat pour des températures variant de 25°C à 250°C. Un banc de test de vieillissement a été conçu pour évaluer la durée de vie des composants en commutation sur une charge résistive avec T>250°C.
Fichier principal
Vignette du fichier
SGE2014_copie.pdf (1.31 Mo) Télécharger le fichier
SGE_finale_2014_copie.pdf (2.02 Mo) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
Loading...

Dates et versions

hal-01065420 , version 1 (18-09-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01065420 , version 1

Citer

Rémy Ouaida, Pierre Brosselard, Pascal Bevilacqua. Etude sur les transistors MOSFETs en Carbure de Silicium - Potentiel d'utilisation dans les Applications Hautes Températures. Symposium de Génie Electrique (SGE'14), Jul 2014, Cachan, France. ⟨hal-01065420⟩
212 Consultations
2046 Téléchargements

Partager

More